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Kyoto Semiconductor kündigt KP-M-Monitor-Photodiode „KPDE008LS-A-RA-HQ" an

·Lesedauer: 3 Min.

KP-M realisiert höhere Qualität durch Inspektionsprozess bei höherer Temperatur.

TOKIO, November 30, 2021--(BUSINESS WIRE)--Kyoto Semiconductor Co., Ltd. (Präsident und CEO Tsuneo Takahashi, Hauptsitz: Fushimi-ku, Kyoto-Stadt), ein führender Hersteller von optischen Produkten mit erstklassigen Technologien und japanischer Qualität, hat die neue KP-M-Monitor-Photodiode KPDE008LS-A-RA-HQ angekündigt.

Diese Pressemitteilung enthält multimediale Inhalte. Die vollständige Mitteilung hier ansehen: https://www.businesswire.com/news/home/20211130006045/de/

Kyoto Semiconductor KP-M Monitor Photodiode KPDE008LS-A-RA-HQ (Photo: Business Wire)

KP-M-Monitor-Photodioden werden verwendet, um den Laser-Output optischer Kommunikationsgeräte zu überwachen.
Im Zuge der fortlaufenden Ausdehnung der digitalen Transformation und der 5G-Kommunikation werden hochwertigere Geräte benötigt. Die Qualität der „KPDE008LS-A-RA-HQ" konnte durch ein zusätzliches Sondierungsverfahren bei höherer Temperatur noch erhöht werden.

  1. Ein neuer Waferprober*1 wurde eingeführt, um die elektrischen Eigenschaften von Halbleiter-Wafern zu inspizieren, wenn diese auf höhere Temperaturen erhitzt werden. So kann bei der Inspektion die Temperatur (T=75℃) nahe am absolut maximalen Nennwert der Betriebstemperatur des Produkts getestet werden. Da bei diesem Prober die gesamte Inspektion auf Wafern umgesetzt wird, können hochwertigere Produkte bei höheren Temperaturen realisiert werden.

  2. Danach wird die Inspektion der Probe per Wafer durchgeführt, und die entnommenen Produkte werden zum Einbrenntest geschickt. Die Proben werden auf die hohe Temperatur von 175℃ erhitzt, und ihre Leistung wird geprüft. Sollte eines der Produkte dem Standard nicht entsprechen, werden alle Produkte auf dem gleichen Wafer nicht ausgeliefert. Dank dieses Screenings per Wafer können wir hochwertigere Produkte anbieten.

Die Massenproduktion der KP-M-Monitor-Photodiode „KPDE008LS-A-RA-HQ" soll am 1. Dezember 2021 beginnen.

Weitere Informationen zum KPC8H-FC finden Sie unter
https://www.kyosemi.co.jp/en/products/kpde008ls-a-ra-hq/

*1 Waferprober: Ein Gerät zur Überprüfung der elektrischen Eigenschaften von Halbleiter-Wafern. Die elektrischen Eigenschaften des Halbleiter-Wafers werden gemessen, indem die Tastnadel in Kontakt mit den einzelnen Elektroden auf dem Wafer gebracht wird.

Über Kyoto Semiconductor
Kyoto Semiconductor wurde 1980 in Kyoto als spezialisierter Hersteller von optischen Halbleitern gegründet. Die hergestellten Halbleiter bieten höchste Leistung und Präzision und eignen sich für den Einsatz im Bereich der optischen Übertragung. Sie werden End-to-End, einschließlich Vor- und Nachbearbeitung, und zusammen mit der einzigartigen Verpackungstechnologie von Kyoto Semiconductor an unserem Standort in Japan hergestellt und Kunden auf der ganzen Welt zur Verfügung gestellt. Kyoto Semiconductor ist Branchenführer mit Technologien nach weltweitem Standard für optische Gerätelösungen, die auf japanischer Qualität und Liebe zum Detail in der Produktion basieren.

Website des Unternehmens: https://www.kyosemi.co.jp/

*Produktnamen, Unternehmensnamen und Organisationsnamen, die in dieser Pressemitteilung erwähnt werden, sind Markenzeichen oder eingetragene Markenzeichen der jeweiligen Unternehmen.
*Alle Inhalte dieser Pressemitteilung entsprechen dem Stand zum Zeitpunkt der Veröffentlichung. Änderungen sind vorbehalten.

Die Ausgangssprache, in der der Originaltext veröffentlicht wird, ist die offizielle und autorisierte Version. Übersetzungen werden zur besseren Verständigung mitgeliefert. Nur die Sprachversion, die im Original veröffentlicht wurde, ist rechtsgültig. Gleichen Sie deshalb Übersetzungen mit der originalen Sprachversion der Veröffentlichung ab.

Originalversion auf businesswire.com ansehen: https://www.businesswire.com/news/home/20211130006045/de/

Contacts

Medienarbeit, Kyoto Semiconductor Co., Ltd.
Naoko Kodama
E-Mail: Media_relation@kyosemi.co.jp

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