Deutsche Märkte geschlossen
  • DAX

    13.786,29
    -93,04 (-0,67%)
     
  • Euro Stoxx 50

    3.636,44
    -48,84 (-1,33%)
     
  • Dow Jones 30

    30.932,37
    -469,64 (-1,50%)
     
  • Gold

    1.733,00
    -42,40 (-2,39%)
     
  • EUR/USD

    1,2088
    -0,0099 (-0,81%)
     
  • BTC-EUR

    37.245,20
    -2.452,93 (-6,18%)
     
  • CMC Crypto 200

    912,88
    -20,25 (-2,17%)
     
  • Öl (Brent)

    61,66
    -1,87 (-2,94%)
     
  • MDAX

    31.270,86
    -370,00 (-1,17%)
     
  • TecDAX

    3.346,40
    -21,82 (-0,65%)
     
  • SDAX

    15.109,96
    -157,04 (-1,03%)
     
  • Nikkei 225

    28.966,01
    -1.202,26 (-3,99%)
     
  • FTSE 100

    6.483,43
    -168,53 (-2,53%)
     
  • CAC 40

    5.703,22
    -80,67 (-1,39%)
     
  • Nasdaq Compositive

    13.192,35
    +72,92 (+0,56%)
     

JEOL: Das neue Kryo-Elektronenmikroskop CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) mit Kaltfeldemission kommt auf den Markt

·Lesedauer: 3 Min.

JEOL Ltd. (TOKYO: 6951) (Präsident und COO Izumi Oi) kündigt die Markteinführung eines neuen Kaltfeldemissions-Kryo-Elektronenmikroskops (Kryo-EM) an, des CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300), das im Januar 2021 auf den Markt kommen soll. Dieses neue Kryo-EM wurde basierend auf dem folgenden Konzept entwickelt: „Schnell und einfach zu bedienen und kontrastreiche und hochauflösende Bilder erhalten".

Diese Pressemitteilung enthält multimediale Inhalte. Die vollständige Mitteilung hier ansehen: https://www.businesswire.com/news/home/20210125005306/de/

Cold Field Emission Cryo-Electron Microscope CRYO ARM(TM) 300 II (JEM-3300) (Photo: Business Wire)

Hintergrund der Entwicklung

Die jüngste dramatische Verbesserung der Auflösung bei der Einzelpartikelanalyse (SPA) unter Verwendung von Kryo-EM hat dazu geführt, dass SPA eine wesentliche Methode für die Strukturanalyse von Proteinen ist. Um diesen Markt anzusprechen, hat JEOL 2017 das CRYO ARM™ 300 auf den Markt gebracht. Ausgestattet mit einer Kaltfeld-Emissionskanone (Cold FEG) für eine verbesserte Auflösung und einer Kryo-Stufe zum Laden mehrerer Proben hat das CRYO ARM™ 300 weiterhin die branchenweit beste Auflösung für SPA erzielt.

Der bisherige SPA-Workflow mit Kryo-EM erfordert jedoch mehrere Elektronenmikroskope, da die Workflows für das Probenscreening und die Bilddatenerfassung unabhängig voneinander sind. Dieses Problem führt zu hohen Betriebskosten für Kryo-EM-Benutzer. Da mehrere Mikroskope verwendet werden müssen, ist es unpraktisch, Kryo-Proben zwischen den Kryo-EMs zu übertragen. Daher haben Benutzer ein Kryo-EM angefordert, die den gesamten Workflow von der Probenprüfung bis zur Bilddatenerfassung ermöglicht. Darüber hinaus war eine Verbesserung der Benutzerfreundlichkeit erforderlich, damit verschiedene Benutzer das Kryo-EM verwenden können, sodass jeder, vom Anfänger bis zum professionellen Benutzer, das Mikroskop reibungslos bedienen kann.

Um diesen Anforderungen gerecht zu werden, hat JEOL ein neues Kryo-EM entwickelt, das CRYO ARM™ 300 II. Dieses Mikroskop erzielt eine große Verbesserung des Durchsatzes für eine qualitativ hochwertige Datenerfassung mit schneller und einfacher Bedienung im Vergleich zum vorherigen CRYO ARM™ 300.

Haupteigenschaften

1. Hochgeschwindigkeitsbildgebung durch optimale Elektronenstrahlsteuerung

2. Verbesserte Hardwarestabilität für eine qualitativ hochwertige Bildaufnahme

3. Höhere Bedienbarkeit durch Systemverbesserung

Jährliches Absatzziel

10 Einheiten/Jahr

Kaltfeldemissions-Kryo-Elektronenmikroskop CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300)
https://www.jeol.co.jp/en/products/detail/JEM-3300.html

JEOL Ltd.
3-1-2, Musashino, Akishima, Tokio, 196-8558, Japan
Izumi Oi, Präsident und COO
(Börsenkürzel: 6951, Tokyo Stock Exchange First Section)
www.jeol.com

Die Ausgangssprache, in der der Originaltext veröffentlicht wird, ist die offizielle und autorisierte Version. Übersetzungen werden zur besseren Verständigung mitgeliefert. Nur die Sprachversion, die im Original veröffentlicht wurde, ist rechtsgültig. Gleichen Sie deshalb Übersetzungen mit der originalen Sprachversion der Veröffentlichung ab.

Originalversion auf businesswire.com ansehen: https://www.businesswire.com/news/home/20210125005306/de/

Contacts

JEOL Ltd
Wissenschaft und Messinstrumente, Vertriebsabteilung
Hideya UENO
+81-3-6262-3567
https://www.jeol.co.jp/en/support/support_system/contact_products.html